MS12001免缠绕测试系统

位置:首页 > 产品 > 光纤生产及测试设备 > 插回损测试仪

MS12001免缠绕测试系统
  • 产品简介
  • 产品特征
  • 产品参数

MS12001测试系统为光纤跳线和元器件提供业内最精确的免缠绕插入损耗和回波损耗测量方案。

MS12001测试系统包括MS05B可扩展型主机箱以及安装在它内部插槽上的MS12 免缠绕测试模块,并可以通过增加MS7光开关模块来测试MPO/MTP等多芯产品。


MS05B主机箱  

MS05B主机箱里面有5个扩展槽,它的模块化设计使得用户能够比较容易的对模块进行添加或移除,以使测试系统能够符合用户的特殊要求。主机箱本身已经集成了最新的电脑硬件, Win7系统以及MS12001测试软件,客户可以通过软件方便地进行测试并对数据进行记录和管理。

 

MS12免缠绕测试模块  

MS12模块集成了先进的OTDR光时域免缠绕测试技术和独特的大孔径积分球功率探测器。运用内部独立的光回路来监控比较和精确测量插入损耗和回波损耗,可以为诸如MPO/MTP连接器及多模光纤等难以测试的产品提供回波损耗的测量。


MS7光开关模块  

MS7光开关模块提供从1 x 2 1 x 48的各种配置,包括单模和多模光缆。其提供了安装MSI 2001系统所需的灵活性,以支持各种应用,例如多波长测试,多芯连接器测试或单芯产品批量测试。MS7光开关模块具有合理的价格和可靠的性能,只有JGR公司能提供用于MS12001系统的MS7光开关模块。


EXFOIQS-12001B相兼容  

MS12001免缠绕测试系统和MS12模块完全符合EXFOIQS-12001B系统,意味着EXFO系统的所有者能够轻易的在他们现有的系统中添加新模块,或者为现有的模块购买新的系统。

● 适用于MPO等多芯产品测试


● 免缠绕测回损,插回损测量可在一次连接内同时完成


● 多模光源符合IEC-‐61280-‐4-‐1 Encircled Flux (EF)标准,测试更准确


● 模块化设计,光源及光开关类型可灵活配置


● 由EXFO IQS-3250B升级而来,行业内广泛应用


● 有5插槽机箱及8插槽机箱可选


● 12,24,32,48,72通道光开关可选

参 数

规 格

                              单模

单模

多模2

光缆类型

(9/125 um)

(9/125 um)

(50/125 62.5/1 25 um)

操作波长

1310/1550 nm

1490/1625 nm

850/1300 nm

回波损耗

30 to 80 dB

30 to 80 dB

10 to 50 dB

插入损耗不确定性

± 0.03 dB3

± 0.03 dB

± 0.07 dB4

插入损耗稳定性

<0.005 nm

<0.005 nm

<0.028 nm

回波损耗重复性

±0.1 dB (30 dB to 65 dB)

±0.2 dB (65 dB to 70 dB)

±0.4 dB (70 dB to 75 dB)

±0.6 dB (75 dB to 80 dB)

±0.1 dB (30 dB to 65 dB)

±0.2 dB (65 dB to 70 dB)

±0.4 dB (70 dB to 75 dB)

±0.6 dB (75 dB to 80 dB)

±0.2 dB (10 dB to 30 dB)

±0.4 dB (30 dB to 40 dB)

±0.6 dB (40 dB to 50 dB)

探测器类型

 大孔径积分球

功率范围

 0 -80 dBm; 0 -60 dBm; 0 -40 dBm

绝对功率精确性

 ±0.25 dB

相对功率精确性

 ± 0.05 dB (< 5dB loss) ±0.15 dB (> 5dB loss)

远程接口

 RS232Ethernet 10-1 00 base -T, and GPIB

输入电压

 100- 240 V AC, 50 - 60 Hz